双面探针台DPW-1200
X-Y travel coarse 300 mm x 300 mm X-Y travel fine 10 mm x 10 mm …
高压探针台HPW
Failure analysis 集成电路失效分析 Wafer level reliability 晶元可靠性认证 Device ch …
8寸探针台PW-800
Failure analysis 集成电路失效分析 Wafer level reliability 晶元可靠性认证 Dev …
6寸探针台PW-600
Failure analysis 集成电路失效分析 Wafer level reliability 晶元可靠性认证 …
经济型6寸探针台MPW-600
Failure analysis 集成电路失效分析 Wafer level reliability 晶元可靠性认证 De …
4寸探针台PW-400
Failure analysis 集成电路失效分析 Wafer level reliability 晶元可靠性认证 De …
Copyright © 2019, 上海仪准电子科技有限公司 沪ICP备16044249号
技术支持:汇成传媒